電子設(shè)備的電磁兼容性要求主要體現(xiàn)在電磁兼容性試驗(yàn)中。電磁兼容性試驗(yàn)?zāi)M了現(xiàn)實(shí)中可能出現(xiàn)的電磁兼容性問(wèn)題。電磁兼容性試驗(yàn)分為兩個(gè)方面，如圖所示。一是測(cè)試設(shè)備的電磁騷擾發(fā)射，主要檢查設(shè)備對(duì)其他設(shè)備的騷擾情況。該試驗(yàn)稱為EMI試驗(yàn)。試驗(yàn)結(jié)果取決于電子設(shè)備產(chǎn)生的騷擾強(qiáng)度是否低于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的值。EMI測(cè)試是一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目，許多電子設(shè)備不容易通過(guò)。主要原因是大多數(shù)設(shè)計(jì)師不知道電磁騷擾是如何產(chǎn)生的，所以他們不知道如何控制它。
